現貨TOPCON拓普康UA-20YM亮度均勻度測量儀 高精度2D(表面)測量儀,可在短時間內一次性測量亮度和色度不均勻性。
更新時間:2025-10-06
產品型號:UA20YM
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原裝TOPCON拓普康亮度均勻度測量儀UA-20YT 高精度2D(表面)測量儀,可在短時間內一次性測量亮度和色度不均勻性。
更新時間:2025-10-06
產品型號:UA20YT
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進口TOPCON拓普康UA-20YW亮度均勻度測量儀 高精度2D(表面)測量儀,可在短時間內一次性測量亮度和色度不均勻性。
更新時間:2025-10-06
產品型號:UA20YW
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日本TOPCON拓普康亮度均勻度測量儀UA-20Y 高精度2D(表面)測量儀,可在短時間內一次性測量亮度和色度不均勻性。
更新時間:2025-10-06
產品型號:UA20Y
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北崎供應TOPCON拓普康近紅外光譜儀SR-NIR 近年來,對近紅外區域測量的需求不斷增加,特別是在顯示器和照明市場。 此外,沒有任何測量儀器可以輕松準確地測量這一點。
更新時間:2025-10-06
產品型號:SRNIR
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進口TOPCON拓普康SR-3AR超低亮度光譜儀 隨著顯示器性能和質量的提高,測量儀器所需的測量標準也變得越來越復雜。 SR-3AR是我公司的長銷產品,滿足廣泛的客戶需求。 我們對多年來流行的SR-3A/SR-3A-L1進行了改進,擴大了測量范圍,實現了更穩定的測量,并大幅提高了可操作性。
更新時間:2025-10-06
產品型號:SR3AR
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